表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4

1.　 系統(tǒng)

 

檢出器測力：0.75 mN

型號	主機(jī)規(guī)格
	X1 軸測量范圍	垂直移動	花崗巖基座尺寸
SV-C3200S4	100 mm	300 mm	600×450 mm

 

 

1-1. 　系統(tǒng)圖

 

 

 

 



 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1-2.　 數(shù)據(jù)處理部

 

分析軟件

FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS

 

 

 

2.　 主機(jī)規(guī)格

 

2-1.　 測量表面粗糙度時

 適用標(biāo)準(zhǔn)：JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA

 評價輪廓：基本曲線／粗糙度曲線／包絡(luò)殘余線／過濾波形曲線／帶通波曲線／波紋度曲線／滾環(huán)波紋曲線／

           粗糙度motif／波紋度motif／DIN4776

 

測量范圍	X1 軸		100 mm
	檢出器		800 μm、80 μm、8 μm
類型	X1 軸		反射型線性編碼器
	檢出器		差動電感式
分辨力	X1 軸		0.05 μm
	檢出器		0.01μm（800 μm） 0.001 μm（80 μm） 0.0001 μm（8 μm）
直線度			（0.05＋L/1000）μm  L為驅(qū)動長度（mm） （以X1軸為水平方向上）
測針上／下運作			弧形移動
測針方向			向下
測力			0.75 mN
測針針尖形狀			60°、R2 μm

 

 

 

2-2.　 測量輪廓形狀時

測量范圍	X1 軸		100 mm
	Z1軸（檢出器）		60 mm
類型	X1 軸		反射型線性編碼器
	Z1軸		圓弧光柵尺
分辨力	X1 軸		0.05 μm
	Z1軸		0.04 μm
直線度			0.8μm/100 mm　（以X1軸為水平方向上）
指示精度	X1 軸		±（0.8＋0.01L）μm  L為驅(qū)動長度（mm）
（20℃）	Z1軸		±（1.6＋｜2H｜/100）μm H：基于水平位置的測量高度（mm）
測針上／下運作			弧形移動
測量方向			向前/向后
測針方向			向上/ 向下
測力			30 mN
跟蹤角度	向上		77°（依表面粗糙度而定）
	向下		83°（依表面粗糙度而定） *使用配置的標(biāo)準(zhǔn)測頭
測針針尖	半徑		25 μm
	材料		硬質(zhì)合金

 

 

2-3.　 主機(jī)規(guī)格

垂直移動	Z2 軸(立柱)		300 mm
長度基準(zhǔn)	Z2 軸		ABSOLUTE 線性編碼器
分辨力	Z2 軸		1 μm
X1 軸傾角范圍			±45°
驅(qū)動速度	X1 軸		0～80 mm/s外加手動
	Z2 軸		0～30 mm/s外加手動
測量速度			0.02～5 mm/s
基座尺寸			600×450 mm
基座材料			花崗巖
尺寸	主機(jī)		996×575×966 mm
	控制器		221×344×490 mm
	遙控箱		248×102×62.2 mm
重量	主機(jī)		140 kg
	控制器		14 kg
	遙控箱		0.9 kg
使用溫度范圍			15～25 ℃
使用濕度范圍			20～80 %RT　　但是不能結(jié)露
保存溫度范圍			-10～50 ℃
保存濕度范圍			5～90 %RT　　但是不能結(jié)露
電源			100～120V、200～240 V±10%、AC50/60 Hz
消耗功率			400 W

 

3-2.　數(shù)據(jù)處理部

品名	備注	數(shù)量
FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS	英語、inch/mm	1
電腦　DELL　OPTIFLEX　9010	Windows7（OS：中國語）	1
打印機(jī)　HP1000		1