合金分析儀的原理與特點(diǎn)

合金分析儀的原理與特點(diǎn)

     合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素， 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。

     每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電微粒）運(yùn)行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。 能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了zui里層三個(gè)電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道zui為接近核子，每個(gè)電子軌道則對應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層（伊諾斯合金分析儀中國服務(wù)商）。

    在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將zui里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

合金分析儀的特點(diǎn)：

◆ 性能

精度高，接近實(shí)驗(yàn)室級的分析水平，可直觀顯示合號和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后 三位）及ppm含量

◆ 速度快，操作簡單

“開機(jī)啟動—瞄準(zhǔn)測試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過程僅需 數(shù)秒便可完成，合號鑒別只需1~2秒鐘，操 作簡單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握

◆ 特殊構(gòu)造

采用堅(jiān)韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅(jiān)固耐用；密封式一體化設(shè)計(jì)，防塵、防水、防腐蝕，可在 任何地方安全使用

◆ 抗病毒能力強(qiáng)

內(nèi)置一體化操作系統(tǒng)，無須外接PDA，運(yùn)算速度快，具有病毒免疫功能

◆ 無損檢測

與破壞性檢測方法不同，樣品在整個(gè)測試過程中無任何損壞

◆ *化應(yīng)用

高性能X射線探測器選項(xiàng)，可為不同用戶的合金分析應(yīng) 用，提供更加專業(yè)的、針對性的解決方案

◆ *NDT軟件

*Niton專有數(shù)據(jù)管理軟件可以讓您輕松設(shè)置用戶登錄口令，生成定制報(bào)告，打印個(gè)性化的附有公司 LOGO的分析證書，實(shí)現(xiàn)對儀器的遠(yuǎn)程操控；用戶可編輯合號庫、添加合號；自動校準(zhǔn)、診斷儀器故障；可通過Internet實(shí)現(xiàn)軟件升級

◆ 靈活的通訊功能

藍(lán)牙、USB和RS-232等多種儀器連接方式，通訊方式非常 靈活。數(shù)據(jù)上傳下載，編輯輸出PMI報(bào)告非常 方便。